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模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種專門設(shè)計用于測試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實驗設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展...

半導(dǎo)體芯片快速溫變試驗箱是一種專門設(shè)計用于測試半導(dǎo)體芯片在快速溫度變化環(huán)境下性能的設(shè)備。由于半導(dǎo)體芯片在工作時對溫度變化非常敏感，特別是在高頻、高功率或惡劣環(huán)境...

全光譜氙燈老化試驗箱是一種模擬自然環(huán)境中太陽光照效果的實驗設(shè)備，被廣泛應(yīng)用于各種材料的耐候性和老化性測試。該設(shè)備主要通過全光譜氙燈（即覆蓋從紫外線到可見光和紅外...

汽車內(nèi)飾老化測試紫外線老化試驗箱（通常稱為紫外線加速老化試驗箱）主要用于評估汽車內(nèi)飾材料（如座椅、儀表盤、內(nèi)飾板、天花板、門板等）在紫外線輻射、溫濕度變化等環(huán)境...

低能耗步入式高低溫試驗箱是一種專門設(shè)計用于進行高低溫環(huán)境測試的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、電氣、材料、汽車、航空等領(lǐng)域。其特點是在試驗過程中能模擬各種惡劣溫度環(huán)境，幫...

動態(tài)臭氧老化試驗箱 是一種專門用于模擬材料在動態(tài)臭氧環(huán)境下老化過程的設(shè)備。與傳統(tǒng)的靜態(tài)臭氧老化試驗箱不同，臭氧老化試驗箱能夠模擬材料在臭氧環(huán)境中暴露下的實際使用...

HAST（High Accelerated Stress Test， 高加速老化測試）HAST非飽和高溫高壓高濕試驗箱是一種加速老化測試設(shè)備，用于測試電子產(chǎn)品（...

五金制品表面處理二氧化硫耐候試驗箱是一種專門用于測試五金制品（如金屬材料、零部件、工具等）表面處理后的耐腐蝕性能的設(shè)備，特別是在模擬二氧化硫（SO?）環(huán)境下的耐...

模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種專門設(shè)計用于測試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實驗設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展...

半導(dǎo)體芯片快速溫變試驗箱是一種專門設(shè)計用于測試半導(dǎo)體芯片在快速溫度變化環(huán)境下性能的設(shè)備。由于半導(dǎo)體芯片在工作時對溫度變化非常敏感，特別是在高頻、高功率或惡劣環(huán)境...

全光譜氙燈老化試驗箱是一種模擬自然環(huán)境中太陽光照效果的實驗設(shè)備，被廣泛應(yīng)用于各種材料的耐候性和老化性測試。該設(shè)備主要通過全光譜氙燈（即覆蓋從紫外線到可見光和紅外...

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動態(tài)臭氧老化試驗箱 是一種專門用于模擬材料在動態(tài)臭氧環(huán)境下老化過程的設(shè)備。與傳統(tǒng)的靜態(tài)臭氧老化試驗箱不同，臭氧老化試驗箱能夠模擬材料在臭氧環(huán)境中暴露下的實際使用...

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半導(dǎo)體芯片快速溫變試驗箱是一種專門設(shè)計用于測試半導(dǎo)體芯片在快速溫度變化環(huán)境下性能的設(shè)備。由于半導(dǎo)體芯片在工作時對溫度變化非常敏感，特別是在高頻、高功率或惡劣環(huán)境...

全光譜氙燈老化試驗箱是一種模擬自然環(huán)境中太陽光照效果的實驗設(shè)備，被廣泛應(yīng)用于各種材料的耐候性和老化性測試。該設(shè)備主要通過全光譜氙燈（即覆蓋從紫外線到可見光和紅外...

汽車內(nèi)飾老化測試紫外線老化試驗箱（通常稱為紫外線加速老化試驗箱）主要用于評估汽車內(nèi)飾材料（如座椅、儀表盤、內(nèi)飾板、天花板、門板等）在紫外線輻射、溫濕度變化等環(huán)境...