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模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于測(cè)試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展...

半導(dǎo)體芯片快速溫變?cè)囼?yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于測(cè)試半導(dǎo)體芯片在快速溫度變化環(huán)境下性能的設(shè)備。由于半導(dǎo)體芯片在工作時(shí)對(duì)溫度變化非常敏感，特別是在高頻、高功率或惡劣環(huán)境...

全光譜氙燈老化試驗(yàn)箱是一種模擬自然環(huán)境中太陽(yáng)光照效果的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，被廣泛應(yīng)用于各種材料的耐候性和老化性測(cè)試。該設(shè)備主要通過(guò)全光譜氙燈（即覆蓋從紫外線到可見(jiàn)光和紅外...

汽車(chē)內(nèi)飾老化測(cè)試紫外線老化試驗(yàn)箱（通常稱(chēng)為紫外線加速老化試驗(yàn)箱）主要用于評(píng)估汽車(chē)內(nèi)飾材料（如座椅、儀表盤(pán)、內(nèi)飾板、天花板、門(mén)板等）在紫外線輻射、溫濕度變化等環(huán)境...

低能耗步入式高低溫試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于進(jìn)行高低溫環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、電氣、材料、汽車(chē)、航空等領(lǐng)域。其特點(diǎn)是在試驗(yàn)過(guò)程中能模擬各種惡劣溫度環(huán)境，幫...

動(dòng)態(tài)臭氧老化試驗(yàn)箱 是一種專(zhuān)門(mén)用于模擬材料在動(dòng)態(tài)臭氧環(huán)境下老化過(guò)程的設(shè)備。與傳統(tǒng)的靜態(tài)臭氧老化試驗(yàn)箱不同，臭氧老化試驗(yàn)箱能夠模擬材料在臭氧環(huán)境中暴露下的實(shí)際使用...

HAST（High Accelerated Stress Test， 高加速老化測(cè)試）HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱是一種加速老化測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試電子產(chǎn)品（...

五金制品表面處理二氧化硫耐候試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試五金制品（如金屬材料、零部件、工具等）表面處理后的耐腐蝕性能的設(shè)備，特別是在模擬二氧化硫（SO?）環(huán)境下的耐...

模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于測(cè)試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展...

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