上海納騰儀器有限公司
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LiteScope™是一種的掃描探針顯微鏡(SPM),便于集成到各種掃描電子顯微鏡(SEM)中?;パaSPM和SEM技術的結合(CPEM)可以進行復雜的樣品分析,包括表面形貌、機械性能、電性能、化學成分、磁性等的表征。 還能與其他掃描電鏡附件相結合,如聚焦離子束(FIB)或氣體注入系統(tǒng)(GIS )用于納米/微結構的制備和表面改性可以對裝配結構的快速和簡單的3D檢查。 同時,SPM和SEM測量能夠在同一地點、同一時間、同一協調系統(tǒng)進行。
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