導體斷面積100平方毫米以下之試料在本機內冷卻1小時后，立即以均勻之速度繞卷于規(guī)定直徑之圓桿上，斷面積100平方毫米以上之試料，則先行繞卷，再冷卻相同之時間后，立即以及反方向繞卷于圓桿上，取出試料檢視表面是否產生龜裂、裂痕。
低溫繞卷試驗機、低溫卷繞試驗機、低溫卷繞試驗儀
型號：HX-7101
概述：
導體斷面積100平方毫米以下之試料在本機內冷卻1小時后，立即以均勻之速度繞卷于規(guī)定直徑之圓桿上，斷面積100平方毫米以上之試料，則先行繞卷，再冷卻相同之時間后，立即以及反方向繞卷于圓桿上，取出試料檢視表面是否產生龜裂、裂痕。
依據標準：
UL-158、CNS-689、JIS-C3005
詳細規(guī)格：
◆ 卷繞系統(tǒng)：3組獨立卷繞測試裝置（可加裝沖擊器）
◆ 溫度：-30℃
◆ 精度：±1℃
◆ 材質：SUS304#不銹鋼
◆ 內箱尺寸：D500XW600XH500mm
◆ 制冷系統(tǒng)：PID微電腦溫控器
◆ 重量：400kg
◆ 電源：380V，50Hz
注：特殊規(guī)格可依客戶要求設計制造
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