導體斷面積100平方毫米以下之試料在本機內冷卻1小時后,立即以均勻之速度繞卷于規(guī)定直徑之圓桿上,斷面積100平方毫米以上之試料,則先行繞卷,再冷卻相同之時間后,立即以及反方向繞卷于圓桿上,取出試料檢視表面是否產生龜裂、裂痕。
低溫繞卷試驗機、低溫卷繞試驗機、低溫卷繞試驗儀
型號:HX-7101
概述:
導體斷面積100平方毫米以下之試料在本機內冷卻1小時后,立即以均勻之速度繞卷于規(guī)定直徑之圓桿上,斷面積100平方毫米以上之試料,則先行繞卷,再冷卻相同之時間后,立即以及反方向繞卷于圓桿上,取出試料檢視表面是否產生龜裂、裂痕。
依據標準:
UL-158、CNS-689、JIS-C3005
詳細規(guī)格:
◆ 卷繞系統(tǒng):3組獨立卷繞測試裝置(可加裝沖擊器)
◆ 溫度:-30℃
◆ 精度:±1℃
◆ 材質:SUS304#不銹鋼
◆ 內箱尺寸:D500XW600XH500mm
◆ 制冷系統(tǒng):PID微電腦溫控器
◆ 重量:400kg
◆ 電源:380V,50Hz
注:特殊規(guī)格可依客戶要求設計制造