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afm原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖：10nm 力學(xué)常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215...
spm掃描探針技術(shù)參數(shù)：針尖：10nm 力學(xué)常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-2...
便攜式原子力顯微鏡可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學(xué)特性進行研究，數(shù)值測定與分析。
葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形...
葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業(yè)級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)...
葛蘭帕NP-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop是一臺納米分析儀器，用于樣品表面粗糙度和樣品微尺度分析。主要應(yīng)用包括工藝開發(fā)和技術(shù)樣品制作的過程控制。
原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖10nm 力學(xué)常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz）長度：225 um（215-235u...
spm掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時可對樣品表面物理...
多功能掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時可對...
AFM拉曼聯(lián)用系統(tǒng)可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學(xué)特性進行研究，數(shù)值測定與分析。
afm原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖：10nm 力學(xué)常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215...
spm掃描探針技術(shù)參數(shù)：針尖：10nm 力學(xué)常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-2...
便攜式原子力顯微鏡可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學(xué)特性進行研究，數(shù)值測定與分析。
葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形...
葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業(yè)級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)...
葛蘭帕NP-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop是一臺納米分析儀器，用于樣品表面粗糙度和樣品微尺度分析。主要應(yīng)用包括工藝開發(fā)和技術(shù)樣品制作的過程控制。
原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖10nm 力學(xué)常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz）長度：225 um（215-235u...
spm掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時可對樣品表面物理...
多功能掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時可對...
AFM拉曼聯(lián)用系統(tǒng)可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學(xué)特性進行研究，數(shù)值測定與分析。
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