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中科院合肥物質(zhì)院強(qiáng)磁場(chǎng)中心 AFM in SEM Seminar

閱讀：4發(fā)布時(shí)間：2025-1-14

2019年11月28-29日，SHNTI聯(lián)合NenoVision在中科院合肥物質(zhì)院強(qiáng)磁場(chǎng)中心舉辦了主題為“LiteScope™: In-situ AFM in SEM-correlative Probeａnd Electron Microscopy(CPEM) "的技術(shù)講座，并由來(lái)自捷克的NenoVision技術(shù)專家給強(qiáng)磁場(chǎng)中心、固體物理所、合肥工大等20余位老師和學(xué)生提供了設(shè)備展示及免費(fèi)測(cè)樣機(jī)會(huì)。

AFM in SEM技術(shù)一種新型的表征聯(lián)用技術(shù)， LiteScope™的探針和掃描電子顯微鏡技術(shù)（CPEM），地實(shí)現(xiàn)以下功能：表面3D表征、原位形貌及對(duì)比、材料表面粗糙度及力學(xué)分析、金屬材料元素分析、表面增強(qiáng)拉曼、生物細(xì)胞研究、針尖定位樣品、FIB加工及缺陷檢測(cè)等相關(guān)測(cè)試。



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