奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細(xì)地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此zui適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

實的測定功能
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

◆測定反射率
測定以物鏡聚光φ17～70μm的微小點的反射率。


◆測定膜厚
活用反射率數(shù)據(jù)，測定約50nm～約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。


◆測定物體顏色
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關(guān)數(shù)值。


◆測定透過率
從受臺下部透過φ2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。（選配）


◆測定入射角為45度的反射率
從側(cè)面向45度面反射φ2mm的平行光，測定其反射率。（選配）



域的高精度&高速測定

◆實現(xiàn)高速測定
使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現(xiàn)高速測定。


◆zui適用于測定細(xì)小部件、鏡片的反射率
新設(shè)計了可以在φ17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細(xì)小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。


◆測定反射率時，不需要背面防反射處理
將物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定zui薄0.2mm的反射率*。


◆可選擇的膜厚測定方法
USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據(jù)用途選擇*的測定方法。

*1 選件組件 　*2 本社測定條件下的測定 　*3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

*4 點徑