1. 主要型號及特點(diǎn)
（1）Vanta Element-S（經(jīng)濟(jì)型）
適用場景：基礎(chǔ)礦石分析、礦脈勘探
檢測元素：Mg（鎂）~ U（鈾）
核心優(yōu)勢：
性價(jià)比高，適合預(yù)算有限的用戶
防塵防水（IP54），適應(yīng)野外環(huán)境
配備硅漂移探測器（SDD），檢測速度快（1~3秒）
（2）Vanta C系列（高性能）
適用場景：高精度礦石分析、稀土元素檢測
檢測元素：擴(kuò)展至輕元素（可選配Li、Be等）
核心優(yōu)勢：
超高靈敏度（ppm級檢測限）
可測**稀土元素（REE）**如La、Ce、Nd等
耐艱苦環(huán)境（-10°C~50°C）
（3）Vanta M系列（工業(yè)級）
適用場景：礦山質(zhì)量控制、冶煉廠原料檢測
檢測元素：全元素覆蓋（可選配LIBS測輕元素）
核心優(yōu)勢：
抗摔設(shè)計(jì)（1.2米跌落測試）
大容量電池（連續(xù)工作8~12小時）
支持云數(shù)據(jù)同步，方便團(tuán)隊(duì)協(xié)作
2. 核心技術(shù)：X射線熒光（XRF）
原理：X射線激發(fā)礦石原子，通過熒光光譜分析元素成分。
精度：
主量元素（如Fe、Cu）誤差<1%
微量元素（如Au、Ag）檢測限達(dá)ppm級
適用礦石類型：
金屬礦（銅、鐵、鉛鋅、金、銀等）
稀土礦（釹、鑭、鈰等）
工業(yè)礦物（磷灰石、鋁土礦等）
3. 典型應(yīng)用場景
| 行業(yè) | 具體用途 |
|---|---|
| 地質(zhì)勘探 | 現(xiàn)場快速分析礦脈成分，指導(dǎo)鉆探方向 |
| 礦山開采 | 礦石品位評估（如金礦含金量、銅礦品位） |
| 選礦廠 | 分選高/低品位礦石，優(yōu)化冶煉流程 |
| 環(huán)境監(jiān)測 | 檢測尾礦中的有害元素（如As、Hg、Cd） |
| 貿(mào)易檢測 | 礦石交易中的成分公證，避免摻假 |
4. 使用注意事項(xiàng)
樣品準(zhǔn)備：
礦石表面需清潔（去除泥土、氧化層）
顆粒狀樣品需壓片或磨平以提高精度
安全防護(hù)：
XRF含微量輻射，避免長時間直射人體
野外使用時注意防塵防潮（盡管IP54防護(hù)）
校準(zhǔn)維護(hù)：
定期用標(biāo)準(zhǔn)礦石樣品校準(zhǔn)（如GSD-1A地質(zhì)標(biāo)樣）
避免高溫、高濕度環(huán)境存放
