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南京芯測軟件技術有限公司，專業(yè)打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內(nèi)晶圓級在片測試，器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進供應商，以滿足國內(nèi)用戶需求，開發(fā)半導體測試設備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務。
南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設備包括：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業(yè)
GP300探針臺12英寸手動探針臺
GP300探針臺產(chǎn)品數(shù)據(jù)：
機臺可輕松實現(xiàn)DC ~ THZ測量。
提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。
優(yōu)異的三軸設計，保證I-V測試漏電精度達到fa等級。
多孔吸附式載物臺設計，更好地兼容薄晶圓固定。
高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng)，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準確性和效率。
可升級的高低溫系統(tǒng)，為芯片提供更加成熟穩(wěn)定的老化測試環(huán)境。
緊湊且可靠的機械設計，更適用于芯片的測試及建模系統(tǒng)升級。
能夠根據(jù)未來需求，可提供多種升級模塊，輕松實現(xiàn)探針臺功能升級。
短軸式拉桿設計，將更加符合新一代芯片系統(tǒng)測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定，將進一步防止誤操作，提高測試效率，節(jié)省成本。
溫控系統(tǒng)局部細節(jié)圖--高溫低漏電載物臺
搭載直流和射頻探針座實物照片
搭載思儀太赫茲系統(tǒng)實物
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